המטרה של איתור באגים במצלמה

מטרת ניפוי המצלמה במערכות משובצות היא לגרום לפרמטרים המכניים והחשמליים של המצלמה לייצר את נתוני התמונה האיכותיים ביותר תוך עמידה בדרישות המערכת. עבור מערכת הדמיה הכוללת חומרה ותוכנה, איכות ההדמיה מושפעת לרוב מגורמים רבים מהפרעות חיצוניות והגבלה עצמית, שייצרו רעש והדמיה לא אחידה. הגורמים מרמת התוכנה הם לרוב בעיות אלגוריתמיות, שניתן לפתור על ידי חישוב מתמטי של ניתוח תיאורטי, בעוד שהגורמים מרמת החומרה צריכים להיות מנופאים עם מכשירים, וניתן לפתור אותם רק באמצעות מדידה וניתוח ניסויים. מכיוון שהשכבה התחתונה של מערכת עיבוד החומרה, לכן, איכות החומרה תשפיע ישירות על איכות התוכנה, ובכך תשפיע על איכות התמונה הסופית. איתור באגים במצלמה נועד למנוע הפרעות ככל האפשר מרמת החומרה.